FLYING PROBE TESTERAPT-2400F系列

不断追求完美

APT-2400F系列是一款高性能的飞针测试系统，配备4个测试头和6根飞行式测针，能够精确接触电路板上微小焊盘并瞬间完成测试。
凭借先进的测量系统和丰富的测试功能，该系列显著提高了测试覆盖率，有效检测出以往难以识别的故障分析。
该系列提供多种型号，适用于大型电路板和自动化测试，能够有效降低从样板制作到大规模生产的测试成本，同时提升组装质量。

新型号的标准配置

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型号		标准尺寸		大尺寸
型号		APT-2400F	APT-2400F-A	APT-2400F-SL	APT-2400F-SL-A
在线式		--	在线式	--	在线式
测针	上侧^*1	4枚倾斜式测针+2枚垂直式测针+2根IC开路感应棒
测针	下侧	3枚垂直式测针（带固定用磁性底盘）
被测基板	尺寸 (L×W)	540mm(21") × 483mm(19")	540mm(21") × 483mm(19") 890mm(35") × 483mm(19")^*2	635mm(25") × 610mm(24")	635mm(25") × 610mm(24") 985mm(38.7") × 610mm(24")^*2
	厚度	6.35mm (0.25")		12.7mm (0.5")	6.35mm (0.25")
	重量	5Kgs (11 lbs)		15Kgs (33 lbs)
搭载元件高度	上侧	60mm
搭载元件高度	下侧^*3	120mm
前后侧边缘夹板区域	上侧	3mm
前后侧边缘夹板区域	下侧	3mm			7mm
检测速度 ^*4	单一测试	0.05~0.06 秒/歩		0.07~0.08 秒/歩
检测速度 ^*4	组合测试	0.02~0.03 秒/歩		0.03~0.04 秒/歩
测针重复定位精度(XY) ^*5		±25μm
测试点最小尺寸 ^*5		50μm
最小测试点间距		150μm

*1 搭载双垂直单元
*2 配合使用分割检测功能（选件）
*3 包含基板厚度
*4 XY轴以2.5mm间距移动时
*5 利用尖针在高精度模式下运行时

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