APT-1400F系列

APT-1400F系列

TAKAYA飞针测试仪是一款采用高速独立飞针组合,对集成电路板进行产品制造缺陷检测的飞针检测系统。早在1987年,TAKAYA率先提出飞针测试理念,并研发出采用电气检测方法,具有高性能高精度检测能力的飞针检测设备。从那时起,TAKAYA一直引领着飞针检测领域的技术发展。TAKAYA将其研究与开发集中于产品技术改革创新,能及时根据市场的变化做出迅速反应,满足不同电子行业领域的技术要求和客户需求。

TAKAYA飞针测试仪是一款采用高速独立飞针组合,对集成电路板进行产品制造缺陷检测的飞针检测系统。早在1987年,TAKAYA率先提出飞针测试理念,并研发出采用电气检测方法,具有高性能高精度检测能力的飞针检测设备。从那时起,TAKAYA一直引领着飞针检测领域的技术发展。TAKAYA将其研究与开发集中于产品技术改革创新,能及时根据市场的变化做出迅速反应,满足不同电子行业领域的技术要求和客户需求。APT-1400F及APT-9000系列测试系统是新一代飞针测试系统的代表。该系统结合了驱动和高精度飞针定位及检测技术领域的数十年经验。设备不仅实现了高精度,高速化检测,并具备了更杰出的检测覆盖率。不仅具有丰富多样的电气检测系统,还具备多种光学检测功能使得测试结果得以补充。

APT-1400F及APT-9000系列测试系统是新一代飞针测试系统的代表。该系统结合了驱动和高精度飞针定位及检测技术领域的数十年经验。设备不仅实现了高精度,高速化检测,并具备了更杰出的检测覆盖率。不仅具有丰富多样的电气检测系统,还具备多种光学检测功能使得测试结果得以补充。

机械及驱动技术 (含选件)

  • 突破性4驱6飞针检测技术
  • 高功率马达及新的高速控制装置
  • 检测速度比传统型号提高50%
  • 准确性提高25%(最小焊盘尺寸<60µm)
  • 全新的XY轴设计和花岗岩XY工作台面
  • 测试机械手更灵活,使用寿命更长
  • 先进的软着陆下针技术
  • 浮动磁头搭载测量电路
  • 新型柔性板夹板功能设计
  • 搭载自动宽度调整系统及SMEMA接口

测量单元(含选件)

  • 16bitDAC/ADC测量单元 含3X4象限DC电源测量系统
  • R、L、C测量
  • 测量电压<0.1V
  • 开尔芬测量
  • 保护回路功能
  • 二极管及齐纳二极管检测
  • 电压控制装置/运算放大器
  • 三极管/FET/光耦合器/继电器等
  • DC/AC电流及电压测量
  • 元件和电路的动态特性曲线的测量
  • 隔离试验
  • 连续性测试
  • 频率测量
  • AC信号发生器
  • 集群试验
  • IC开路感应器
  • LED传感器(波长与亮度)
  • 可接附

光学检测系统

  • 高感度CCD彩色照相机
  • 配2x可编程LED照明光源
  • 基础标记识别(偏移,旋转,缩小)
  • 元件识别(极性,缺漏,移位及误装)
  • 可识别条形码和二维码
  • 可进行光学字符读取
  • 元件颜色识别
  • 彩色实像图系统(基板及测试点显示)

In-line应用

  • 所有APT系统均可搭载自动输送系统,系统具有自动调整宽度功能,搭载自动输送系统的飞针测试仪可实现"上板机"至"下板机"的完全自动化生产线操作。

大尺寸板对应

  • 基于上面所述平台,我们也可以为客户提供针对大尺寸板检测的机型APT-1400F-SL。

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